
厂商详情
MIDORIYA
地址 | KDX edobashi Building 8F Nihonbashi Honcho 1-7-2 Chuo-ku Tokyo, 日本邮编:103-0023 |
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负责人姓名 | MAKOTO KUROHA |
年收 | 不显示 |
公司人数 | 不显示 |
SD商品编号:9281617
详情 | 价格 & 数量 | ||
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S1 |
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(ITS-CCW-7015-01-SC4-HT)
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(ITS-CCW-7015-01-SC4-HT)
批发价: 仅限会员
1点/组
售罄
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出货时期 |
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约1个月
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尺寸 |
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商品规格 |
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描述
步进(曝光机)卡盘清洁、热点缺陷处理、叠加缺陷处理 处理热点缺陷,处理覆盖缺陷 轨道(涂布机*显影机)设备的清洁。 减少带入曝光系统的晶片背面灰尘 清洗蚀刻系统卡盘,处理热点缺陷,处理覆盖缺陷 氦泄漏缺陷 PVD设备卡盘的清洁、He 对应BSPF(背面压力故障) 卡盘清洗Wafer 300mm 1.0X粘性硅酮涂层高温 卡盘清洗晶片300mm 0.1倍粘性聚酰亚胺涂层 卡盘清洁晶片 100mm 0.1 倍粘性层压 1mm 切边 " |
更多
配送方法 | 估计到达 |
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Sea Mail | 从 2025年08月21日 到 2025年10月23日 |
Air Mail | 从 2025年08月05日 到 2025年08月07日 |
EMS | 从 2025年08月04日 到 2025年08月07日 |
Pantos Express | 从 2025年08月06日 到 2025年08月11日 |
DHL | 从 2025年08月04日 到 2025年08月06日 |
UPS | 从 2025年08月04日 到 2025年08月06日 |
FedEx | 从 2025年08月04日 到 2025年08月06日 |
某些交易条件可能仅适用于日本 |
其他人感兴趣的:
auto parts此类产品中的其他产品:
处理热点缺陷,处理覆盖缺陷
轨道(涂布机*显影机)设备的清洁。
减少带入曝光系统的晶片背面灰尘
清洗蚀刻系统卡盘,处理热点缺陷,处理覆盖缺陷
氦泄漏缺陷
PVD设备卡盘的清洁、He
对应BSPF(背面压力故障)
卡盘清洗Wafer 300mm 1.0X粘性硅酮涂层高温
卡盘清洗晶片300mm 0.1倍粘性聚酰亚胺涂层
卡盘清洁晶片 100mm 0.1 倍粘性层压 1mm 切边
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Dealing with hot spot defects, Dealing with overlay defects
Cleaning of track (coater*developer) equipment,
Reduction of wafer backside dust brought into the exposure system
Cleaning of etch system chuck,
He Leak defects
Cleaning of PVD equipment chuck,
Correspondence to BSPF (Back Surface Pressure Failure)
Chuck Cleaning Wafer 300mm 1.0X tack Silicone-coat Hi temp
Chuck Cleaning Wafer 300mm 0.1X tack Polyimide-coat
Chuck Cleaning Wafer 100mm 0.1X tack Laminated 1mm trimming
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